サンプルを正しく準備することは、効果的で再現性のあるサンプル上の結晶粒の分析を保証するための最初の基本的なステップです。実際、このような値は、合金の特性を管理し、生産の重要な品質を維持するために不可欠です。
QATMとZEISSが提供するウェビナー「Grain analysis: tips and techniques for a correct analysis」では、正しい分析を行うためのサンプルをどのように正しく準備し、どのような注意を払うべきかを説明します。粒度分析は、冶金レベルで誰もが扱わなければならない最も古典的なアプリケーションの一つです。QATMは、試料の準備に関する様々な問題を取り上げ、マウントや研磨パラメータの正しい選択から、正しい研磨レベルまで、完璧な分析を実現する方法をご紹介します。このウェビナーでは、信頼性、再現性、および品質の高い顕微鏡写真分析を行うためのサンプル調製管理に関する詳細なセクションが続きます。
トピックス
材料微細構造検査の準備
- はじめに
- 実装：正しいパラメータの選択
- 実装：正しい消耗品の選択
- 従来の研磨方法
- 新しいポラリスシック
- ケミカルエッチング
- 結論
サンプル分析
- はじめに
- 顕微鏡の構成
- 試料の品質管理
- 分析・報告の例
- 結論
講演者:
- Materialographic preparation: Davide Di Sanza, QATM Product Specialist – Verder Scientific Italy
- Sample Analysis: Silvia Contessi, David Basurto, Alessio Lombardo – Zeiss Metrologia
